多層膜厚度測試是指對由多個薄膜層疊加而成的復合膜進行厚度測量。由于多層膜通常由幾個不同材料的薄膜層組成，因此測量其厚度需要考慮不同層之間的界面影響以及每個單獨層的厚度。
多層膜厚度測試儀是一款快速、準確測量薄膜表征應用的模塊化產(chǎn)品。它采用先進的超聲波技術，實現(xiàn)了較好的測量精度，具有優(yōu)秀重復性和再現(xiàn)性。產(chǎn)品可以在任何生產(chǎn)環(huán)境中操作。附帶的Windows應用軟件管理數(shù)據(jù)傳輸和自動超聲波波形分析。
目前，產(chǎn)品可應用于在線膜厚測量、測氧化物、SiNx、感光保護膜和半導體膜。同時多層膜厚度測試儀還可以用來測量鍍在鋼、鋁、銅、陶瓷和塑料等上的粗糙膜層。薄膜表面或界面的反射光會與從基底的反射光相干涉，干涉的發(fā)生與膜厚及折光系數(shù)等有關，因此可通過計算得到薄膜的厚度。光干涉法是一種無損，且快速的光學薄膜厚度測量技術，薄膜測量系統(tǒng)采用光干涉原理測量薄膜厚度。
多層膜厚度測試儀的特點：
1、可以測量多層膜中每一層的厚度；
2、遠程控制和在線測量；
3、豐富的材料庫：操作軟件的材料庫帶有大量材料的n和k數(shù)據(jù)，基本上常用材料都包括在這個材料庫中。用戶也可以在材料庫中輸入沒有的材料；
4、操作簡單，測速快：膜厚測量儀操作非常簡單；
5、帶有可升級的掃描功能，進行薄膜二維的測試，并將結(jié)果以2D或3D的形式顯示；
6、帶有構(gòu)建材料結(jié)構(gòu)的拓展功能，可對多層薄膜數(shù)據(jù)進行擬合分析，可對薄膜材料進行預先模擬設計。
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