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F2-RT 光譜反射和透射測量系統(tǒng)是美國Filmetrics新推出的物超所值同時(shí)測量反射率和透射率的儀器。

Filmetrics F10-ARc薄膜分析儀 目標(biāo)光譜與多條反射光譜比較 – 自動(dòng)評(píng)估反射率，*小/*大位置，并得出明確的讀數(shù)結(jié)論。大 大的減少了人為造成的讀數(shù)和計(jì)算誤差。

Filmetrics 自動(dòng)化厚度測量儀能以每秒測繪兩個(gè)點(diǎn)的速度快速的測繪薄膜厚度，一般較短的波長 （例如， F50-UV） 可用于測量較薄的薄膜，而較長的波長則可以用來測量更厚、更不平整以及更不透明的薄膜。

Filmetrics 薄膜厚度測量儀F10-HC薄膜測量系統(tǒng)，能夠快速的分析薄膜 的反射光譜資料并提供測量厚度，加上F10-HC軟件*的先進(jìn)模擬演算法的設(shè)計(jì)，能夠在厚膜中測量單層與多層（例如：底漆或硬涂層等）。

不論您是想要知道薄膜厚度、光學(xué)常數(shù)，還是想要知道材料的反射率和透過率，F(xiàn)ilmetrics薄膜厚度測量儀F20都能滿足您的需要。僅需花費(fèi)幾分鐘完成安裝，通過USB連接電腦，設(shè)備就可以在數(shù)秒內(nèi)得到測量結(jié)果。

Thetametrisis自動(dòng)化光學(xué)膜厚儀 FR-Scanner自動(dòng)化超高速薄膜厚度測量儀是一種緊湊的臺(tái)式工具，適用于自動(dòng)測繪晶圓片上的涂層厚度。FR-Scanner 可以快 速和準(zhǔn)確測量薄膜特性:厚度，折射率，均勻性，顏色等。真空吸盤可應(yīng)用于任何直徑或其他形狀的樣片。