當(dāng)前位置：首頁 > 技術(shù)文章
在半導(dǎo)體制造、光學(xué)薄膜研發(fā)及精密涂層檢測等領(lǐng)域，薄膜厚度與光學(xué)參數(shù)的精準(zhǔn)測量是保障產(chǎn)品質(zhì)量與性能的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。Thetametrisis薄膜厚度測量儀（如FR-Scanner系列）憑借其高度集成的光學(xué)模塊設(shè)計，成為這一領(lǐng)域的標(biāo)準(zhǔn)設(shè)備——其光學(xué)...
柔性薄膜電阻是一種具有高柔韌性和可塑性的新型電阻材料，廣泛應(yīng)用于電子設(shè)備、傳感器、柔性顯示等領(lǐng)域。為了評估柔性薄膜電阻的性能和質(zhì)量，檢測其電阻值的準(zhǔn)確性和穩(wěn)定性成為一項重要的任務(wù)。近年來，微流體技術(shù)作為一種精準(zhǔn)、高效的測試方法被引入柔性薄膜電阻測試中，其應(yīng)用和優(yōu)勢值得深入探討。本文將對微流體技術(shù)在測試中的應(yīng)用與優(yōu)勢進行分析。一、微流體技術(shù)在柔性薄膜電阻測試中的應(yīng)用：1.傳感器制備：微流體技術(shù)可以實現(xiàn)對柔性薄膜電阻的定點涂布和模式化制備，通過微細的流動控制，在柔性基底上形成高精...
薄膜電阻廣泛應(yīng)用于電子行業(yè)的各個領(lǐng)域，如顯示屏、光伏電池等。為了確保薄膜電阻的質(zhì)量和性能，需要進行準(zhǔn)確可靠的測試。傳統(tǒng)的儀器對操作人員的技術(shù)要求較高，并且測試速度較慢。而基于機器學(xué)習(xí)算法的智能化薄膜電阻測試儀的開發(fā)與應(yīng)用可以提高測試效率和準(zhǔn)確性，為薄膜電阻產(chǎn)業(yè)帶來更大的便利和發(fā)展機遇。一、智能化薄膜電阻測試儀的開發(fā)：1.數(shù)據(jù)采集：儀器通過傳感器對薄膜電阻進行實時數(shù)據(jù)采集。這些數(shù)據(jù)可以包括電阻值、溫度、濕度等信息。采集的數(shù)據(jù)作為訓(xùn)練模型的輸入，用于構(gòu)建機器學(xué)習(xí)算法。2.模型訓(xùn)練...
激光測厚儀主要應(yīng)用于鋰電池正、負極涂布，鋰電池正、負極輥壓的厚度和面密度測量。對于傳統(tǒng)涂布線，技術(shù)人員建議采用離線式激光測厚儀通過抽檢的方式折中地解決邊緣監(jiān)控問題；而對于新上的涂布線，推薦使用該設(shè)備放置于放卷后、涂布前，測量基材的厚度和面密度；也可以放置在烘箱后、收卷前，測量烘干極片的厚度和面密度。激光測厚儀設(shè)備與傳統(tǒng)設(shè)備最大的不同在于其光斑很小，不僅在極片中間區(qū)域表現(xiàn)良好，還能準(zhǔn)確地監(jiān)控極片頭尾和左右的輪廓，避免削薄區(qū)和頭尾出現(xiàn)較大的面密度或厚度偏差而導(dǎo)致批量報廢。本產(chǎn)品主...
微納米尺度探針在高精度薄膜電阻測試中發(fā)揮著重要的作用。這種方法可以提供更準(zhǔn)確和可靠的測量結(jié)果，為材料科學(xué)、電子器件制造等領(lǐng)域的研究和應(yīng)用提供有價值的數(shù)據(jù)。傳統(tǒng)的薄膜電阻測試方法通常使用宏觀尺寸的探針或接觸頭進行測量，但這種方法存在一些局限性。例如，在微米甚至納米級別上進行精確測量時，無法避免與被測樣品之間發(fā)生非破壞性接觸，并且可能會受到外界因素（如表面粗糙度）影響。因此，利用微納米尺度探針來進行高精度薄膜電阻測試成為了一種新型解決方案。微納米尺度探針是由特殊材料制成并具有極細...
1.概述由于光刻的延遲和功率限制的綜合影響，制造商無法水平縮放，因此制造商正在垂直堆疊芯片設(shè)備，含三維集成技術(shù)。由于移動設(shè)備的激增推動了對更小電路尺寸的需求，這已變得至關(guān)重要，但這種轉(zhuǎn)變并不總是那么簡單。三維集成方案可以采用多種形式，具體取決于所需的互連密度。圖像傳感器和高密度存儲器可能需要將一個芯片直接堆疊在另一個芯片上，并通過硅通孔連接，而系統(tǒng)級封裝設(shè)計可能會將多個傳感器及其控制邏輯放在一個重新分配層上。2.業(yè)內(nèi)行情EVGroup業(yè)務(wù)發(fā)展總監(jiān)ThomasUhrmann認為...